利用电子束穿透超薄样品成像，分辨率可达0.1nm，是研究材料原子结构和纳米材料的利器。
通过扫描电子束探测样品表面信号，实现纳米级表面形貌和成分分析，广泛应用于材料科学。
使用聚焦离子束进行纳米加工、TEM样品制备和三维重构，是半导体制造的关键工具。
基于量子隧穿效应，实现原子级表面形貌成像和单原子操控，开创了纳米技术新时代。
通过原子间作用力探测表面形貌，适用于导电/绝缘样品，可在大气或液相环境中工作。
结合TEM和SEM优势，HAADF-STEM可实现原子序数衬度成像，是材料表征的强大工具。
专注于电子显微镜技术在材料科学中的应用研究。
研究方向包括：高分辨电子显微学、STEM成像技术、图像处理算法开发。
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🌐 网站: temmethodology.cn